中頻雷達(dá)液位計(jì)   雷達(dá)液位計(jì)發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達(dá)波以光速運(yùn)行。運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。一種特殊的時(shí)間延伸方法可以確保極短時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定和的測(cè)量。中頻雷達(dá)液位計(jì)

雷達(dá)物位計(jì)是基于時(shí)間行程原理的測(cè)量?jī)x表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式、桿式探頭傳導(dǎo)，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來(lái)被儀表內(nèi)的接收器，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化成物位信號(hào)。 雷達(dá)物位計(jì) 應(yīng) 用：液體、粉料、固體顆粒 測(cè)量范圍：30米 過程連接：螺紋、法蘭 過程溫度：-40-250° 過程壓力：-1.0-20bar 精 度：<0.1% 頻率范圍：100MHZ--1.8GHZ 防護(hù)等級(jí)：ExiaⅡC T6/IP67 信號(hào)輸出:4-20mA/HART（兩線） 導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì) 應(yīng) 用：液體、粉料、固體顆粒 測(cè)量范圍：6米 過程連接：螺紋、法蘭 過程溫度：-40-250° 過程壓力：-1.0-20bar 精 度：<0.1% 頻率范圍：100MHZ--1.8GHZ 防護(hù)等級(jí)：ExiaⅡC T6/IP67 信號(hào)輸出:4-20mA/HART（兩線） DEC-LEDC3導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì) 應(yīng) 用：液體、粉料、固體顆粒 測(cè)量范圍：6米 過程連接：螺紋、法蘭 過程溫度：-40-250° 過程壓力：-1.0-20bar 精 度：<0.1% 1.8ghz="" c="" ip67="">1.8的介質(zhì)，測(cè)量范圍可達(dá)35m； 3、供電和輸出信號(hào)通過一根兩芯線纜（回路電路）,采用4…20mA輸出或數(shù)字型信號(hào)輸出； 4、非接觸式測(cè)量安裝方便采用極其穩(wěn)定的材料牢固耐用，可靠分辨率可達(dá)1mm； 5、不受噪音、蒸汽、粉塵、真空等工況影響； 6、不受介質(zhì)密度和溫度的變化，過程壓力可達(dá)40bar,介質(zhì)溫度可達(dá)300℃； 7、安裝方式有多種可以選擇：頂部安裝、側(cè)面安裝、旁通管安裝、導(dǎo)波管安裝； 8、調(diào)試可多種方式選擇：采用編程模塊調(diào)試（相當(dāng)于一個(gè)分析處理儀表）、SOFT軟件調(diào)試、HART手持編程器調(diào)試，調(diào)試起來(lái)方便快捷。

即使工況比較復(fù)雜的情況下，存在虛假回波，用***新的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的分析出物位的回波。

　　輸入

　　天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別出微脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，精度可達(dá)到毫米級(jí)。距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T成正比：

　　D=C×T/2

　　其中C為光速

　　因空罐的距離E已知，則物位L為：

　　L=E-D

　　輸出

　　通過輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于4－20mA輸出。

　　應(yīng)用介質(zhì)：

　　 SKD系列智能雷達(dá)物位計(jì)適用于對(duì)液體、漿料及顆粒料的物位進(jìn)行非接觸式連續(xù)測(cè)量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發(fā)存在的場(chǎng)合。

　　 采用微波脈沖的測(cè)量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對(duì)人體及環(huán)境均無(wú)傷害。

　　安裝說明

　　 距離（1）墻至安裝短管的外壁：

　　 離罐壁為罐直徑1/6處，***小距離為200mm。

　　 不能安裝在入料口的上方（4）。

　　 不能安裝在中心位置（3），如果安裝在*，會(huì)產(chǎn)生多重虛假回波，干擾回波會(huì)導(dǎo)致信號(hào)丟失。

　　 如果不能保持儀表與罐壁的距離，罐壁上的介質(zhì)會(huì)黏附造成虛假回波，在調(diào)試儀表的時(shí)候應(yīng)該進(jìn)行虛假回波存儲(chǔ)。

　　注意事項(xiàng)

　　 測(cè)量范圍從波束觸及罐低的那一點(diǎn)開始計(jì)算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當(dāng)物位低于此點(diǎn)時(shí)無(wú)法進(jìn)行測(cè)量。

　　 若介質(zhì)為低介電常數(shù)當(dāng)其處于低液位時(shí)，罐低可見，此時(shí)為保證測(cè)量精度，建議將零點(diǎn)定在低高度為C 的位置。

　　 理論上測(cè)量達(dá)到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測(cè)量范圍的終值應(yīng)距離天線的至少100mm。

　　 對(duì)于過溢保護(hù)，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。

　　 ***小測(cè)量范圍與天線有關(guān)。

　　 隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進(jìn)行測(cè)量的。